{"id":8376,"date":"2024-09-24T09:29:35","date_gmt":"2024-09-24T07:29:35","guid":{"rendered":"https:\/\/satdi.umh.es\/?page_id=8376"},"modified":"2026-04-30T12:32:28","modified_gmt":"2026-04-30T10:32:28","slug":"satdi-ic-recubrimiento-de-muestras-microscopia-electronica-de-barrido","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/satdi.umh.es\/en\/servicios-prestados\/instrumentacioncientifica\/servicios_ofertados\/servicios_ofertados-satdi-ic-preparacion-de-muestras-para-microscopia\/satdi-ic-recubrimiento-de-muestras-microscopia-electronica-de-barrido\/","title":{"rendered":"SATDI-IC: Sample coating (Q150T S plus, Quorum Technologies Ltd.)"},"content":{"rendered":"

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Equipamiento<\/strong><\/p>\n<\/p><\/div>\n

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Recubrimiento de muestras por sputtering
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Q150T S plus (Quorum Technologies Ltd.)<\/strong><\/p>\n<\/td>\n

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Campus de ELCHE<\/strong><\/span><\/p>\n<\/td>\n

\"Logo<\/td>\n<\/tr>\n
\"Imagen<\/td>\n\n

Sistema de recubrimiento de muestras para microscop\u00eda electr\u00f3nica mediante distintas t\u00e9cnicas. En esta configuraci\u00f3n se hace uso de la t\u00e9cnica de sputtering<\/em> para recubrir las muestras con una fina capa de un material conductor, en este caso cromo, que aumenta la emisi\u00f3n de electrones secundarios a la vez que minimiza el efecto t\u00e9rmico y de cargas el\u00e9ctricas.<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n

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Contacto<\/strong><\/p>\n<\/p><\/div>\n

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Campus de ELCHE<\/strong><\/p>\n

Edificio TORREPINET
\n (C\u00f3digo GIS: E08P0008)<\/p>\n<\/td>\n

Ver ubicaci\u00f3n\"Icono<\/a><\/td>\n<\/td>\n\n