SATDI-IC – Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo, FESEM (Sigma 300 VP)
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Equipamiento
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Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Sigma 300 VP (ZEISS) |
Campus de Elche |
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Microscopio de emisión de campo de cátodo caliente Schottky. Puede trabajar con tensiones entre 0,02 y 30 kV y tiene una resolución de 1.0 nm a 15 kV y 1.6 nm a 1 kV. Cuenta con los detectores de electrones secundarios (SE) e InLens, electrones retrodispersados (BSE), rayos X (EDX) y uno de electrones transmitidos (STEM). Permite trabajar tanto en alto vacío (HV) como con presión variable (VP, entre 10 y 133 Pa), para esto último incluye otro detector de electrones secundarios (VPSE). A su vez existe la posibilidad de realizar microscopía correlativa (CLEM) con microscopios ópticos avanzados. |
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Equipo operativo |
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Contacto
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Campus de Elche Edificio Torrepinet |
Ver ubicación |
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Tarifas vigentes (2024)
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Referencia |
Descripción |
Unidad |
Precio unitario UMH (€) |
Precio unitario Entidades Públicas (€) |
Precio unitario Entidades Privadas (€) |
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T-ELTP-04 |
Uso del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Zeiss Sigma 300 VP |
hora |
25.54 |
29.55 |
31.32 |
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T-ELTP-07 |
Procesado de muestras microscopio-electrónico- |
ciclo |
17.11 |
19.8 |
20.98 |
Observaciones
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El equipo ha sido adquirido gracias a una Actuación cofinanciada por la Unión Europea a través del Programa Operativo del Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER) de la Comunitat Valenciana 2014-2020 (PROYECTO: IDIFEDER2020/022). |
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Enlaces
- Web del IDiBE (enlace)
