Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo

Sigma 300 VP (ZEISS)

Campus de ELCHE

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) que permite la captura de imágenes de alta calidad combinada con el análisis elemental avanzado.

Características destacadas:

• Cañón de electrones de cátodo caliente tipo Schottky

• Tensión de trabajo entre 0,02 y 30 kV

• Resolución de 1.0 nm a 15 kV y de 1.6 nm a 1 kV.

• Modos de trabajo:
  Alto vacío (HV)
  Presión variable o bajo vacío (VP, entre 10 y 133 Pa)

• Detectores:
  Electrones Secundarios (SE) Everhart-Thornley
  Electrones Secundarios (InLens)
  Electrones Secundarios en Presión Variable (VPSE)
  Electrones Retrodispersados (BSE)
  Energía Dispersiva de Rayos X (EDX)
  Electrones Transmitidos (STEM)

Campus de ELCHE

Edificio TORREPINET
(Código GIS: E08P0008)

• Rodríguez Cañas, Enrique
• +34 965 22 2237

El equipo ha sido adquirido gracias a una Actuación cofinanciada por la Unión Europea a través del Programa Operativo del Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER) de la Comunitat Valenciana 2014-2020

Tanto este microscopio electrónico como el microscopio óptico de barrido confocal del IDiBE pueden compartir el mismo tipo de portamuestras y hacen uso del mismo software, por lo que la microscopía correlativa CLEM (Correlative Light-Electron Microscopy) se puede llevar a cabo de una forma sencilla superponiendo y fusionando la información obtenida por ambas técnicas en una misma área de la muestra